文化大學機構典藏 CCUR:Item 987654321/36592
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 47249/51115 (92%)
造訪人次 : 14013559      線上人數 : 301
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    主頁登入上傳說明關於CCUR管理 到手機版


    Please use this identifier to cite or link to this item: https://irlib.pccu.edu.tw/handle/987654321/36592


    Title: Места наибольшего напряжения текста
    Authors: Аникина, Т.Е.
    Contributors: 俄文系
    Keywords: текст
    подтекст
    структурно-стилистические средства
    понимание текста
    Text
    subtext
    structural and stylistic means
    understanding the text
    Date: 2015-06-01
    Issue Date: 2017-07-03 12:59:17 (UTC+8)
    Abstract: В тексте существуют места, где сосредоточено его смысловое ядро, где обнажается подтекст. Текст в этом месте становится особенно напряженным и дает формальную посылку того, что перед нами ключевой смысловой момент. Этим сигналом служит сбой в доминирующих структурно-стилистических средствах, который выражается в том, что появляются чуждые тексту формальные элементы. Постижение глубинного смысла текста требует глубоких лингвистических и культурологических знаний.
    In the text, there are places where it is concentrated semantic nucleus, where exposed subtext. The text in this site is particularly tight and provides a formal parcel of what he stressed, that this is a key moment sense. This signal is a failure in the dominant structural and stylistic means, which is expressed in the fact that there are alien to the formal elements of the text. Understanding the deep meaning of the text requires deep linguistic and cultural knowledge.
    Relation: 俄國語文學報 ; 16期 (2015 / 06 / 01) , P3 - 10
    Appears in Collections:[俄文系所] 學報-俄國語文學報

    Files in This Item:

    File Description SizeFormat
    index.html0KbHTML144View/Open


    All items in CCUR are protected by copyright, with all rights reserved.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback