文化大學機構典藏 CCUR:Item 987654321/36592
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 47184/51050 (92%)
造访人次 : 13956241      在线人数 : 301
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻
    主页登入上传说明关于CCUR管理 到手机版


    Please use this identifier to cite or link to this item: https://irlib.pccu.edu.tw/handle/987654321/36592


    Title: Места наибольшего напряжения текста
    Authors: Аникина, Т.Е.
    Contributors: 俄文系
    Keywords: текст
    подтекст
    структурно-стилистические средства
    понимание текста
    Text
    subtext
    structural and stylistic means
    understanding the text
    Date: 2015-06-01
    Issue Date: 2017-07-03 12:59:17 (UTC+8)
    Abstract: В тексте существуют места, где сосредоточено его смысловое ядро, где обнажается подтекст. Текст в этом месте становится особенно напряженным и дает формальную посылку того, что перед нами ключевой смысловой момент. Этим сигналом служит сбой в доминирующих структурно-стилистических средствах, который выражается в том, что появляются чуждые тексту формальные элементы. Постижение глубинного смысла текста требует глубоких лингвистических и культурологических знаний.
    In the text, there are places where it is concentrated semantic nucleus, where exposed subtext. The text in this site is particularly tight and provides a formal parcel of what he stressed, that this is a key moment sense. This signal is a failure in the dominant structural and stylistic means, which is expressed in the fact that there are alien to the formal elements of the text. Understanding the deep meaning of the text requires deep linguistic and cultural knowledge.
    Relation: 俄國語文學報 ; 16期 (2015 / 06 / 01) , P3 - 10
    Appears in Collections:[俄文系所] 學報-俄國語文學報

    Files in This Item:

    File Description SizeFormat
    index.html0KbHTML142View/Open


    All items in CCUR are protected by copyright, with all rights reserved.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈