文化大學機構典藏 CCUR:Item 987654321/36604
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 46867/50733 (92%)
造访人次 : 11890283      在线人数 : 803
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻
    主页登入上传说明关于CCUR管理 到手机版


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: https://irlib.pccu.edu.tw/handle/987654321/36604


    题名: Язык как отражение менталитета и духовных основ нации (на материале русского и китайского языков)
    作者: Тюрин, П. М.
    贡献者: 俄文系
    关键词: менталитет
    ментальность
    языковая картина мира
    грамматические категории
    речевая агрессия
    национальный язык
    языковые особенности
    речь
    mentality
    the mentality
    linguistic worldview
    grammatical categories verbal aggression
    national language
    language features
    speech
    日期: 2015-06-01
    上传时间: 2017-07-03 14:31:24 (UTC+8)
    摘要: В статье рассматривается специфика отражения национального менталитета в русском и китайском языках. Выделяются группы языковых единиц, которые способны в определённой форме отражать доминанты национального сознания. Отдельно рассматривается вопрос о речевой агрессии как одной из форм отражения национального менталитета в языке. Делается вывод о необходимости разграничения речевой агрессии и потенциальных возможностей языковой системы реализовывать такую агрессию. В ходе анализа языковых единиц обнаружено, что русский и китайский языки демонстрируют определённое сходство в плане выражения речевой агрессии, однако есть и существенные отличия: на русский язык существенное влияние оказали социально-экономические потрясения в стране в 1990-е годы и период тоталитаризма. Последнее приводит к необходимости исправления данной ситуации как на законодательном, так и на образовательном уровне.
    關聯: 俄國語文學報 ; 16期 (2015 / 06 / 01) , P161 - 176
    显示于类别:[俄文系所] 學報-俄國語文學報

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    index.html0KbHTML96检视/开启


    在CCUR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈