文化大學機構典藏 CCUR:Item 987654321/36602
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 47249/51115 (92%)
造訪人次 : 14039342      線上人數 : 319
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    主頁登入上傳說明關於CCUR管理 到手機版


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: https://irlib.pccu.edu.tw/handle/987654321/36602


    题名: Фразеологические неологизмы русского языка и проблемы их лексикографического описания
    作者: JСавченко, А.В.
    贡献者: 俄文系
    关键词: фразеология
    новая русская фразеология
    неологика
    фразеологические неологизмы
    неологизация лексики
    лексикографическое описание
    трансформации
    язык СМИ
    成語
    新俄語成語
    詞典描述
    新詞詞彙
    轉化
    大眾傳媒語言
    phraseology
    new russian phraseology
    lexicographic description
    processes of neologisation
    transformations
    language of Mass Media
    日期: 2015-06-01
    上传时间: 2017-07-03 14:27:12 (UTC+8)
    摘要: Статья посвящена анализу некоторых характерных для последних трёх десятилетий процессов, происходящих, помимо лексики, во фразеологической системе современного русского языка. В статье также рассматриваются основные аспекты в разработке направления неологики русского языка на данном этапе его развития, представленные в работах российских и зарубежных исследователей.
    文章主要在分析近三十年詞彙在現代俄語成語系統中發展的特色,文章中還探討國內外研究者對新詞目前發展的主要方向的重要觀點。|In the article are analyzed basic processes, occurring the last three decades in the lexical system of Russian at all, and different ways of forming, creation of new words and especially phraseologisms (resp. idioms) in modern Russian. The article also presents main aspects in development of the new trend in linguistics - neology, represented in the works of Russian and foreign researchers.
    關聯: 俄國語文學報 ; 16期 (2015 / 06 / 01) , P133 - 148
    显示于类别:[俄文系所] 學報-俄國語文學報

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    index.html0KbHTML116检视/开启


    在CCUR中所有的数据项都受到原著作权保护.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback